AFMプローブ SPM-AC200S-AS
![AFMプローブ AC200](../../img/afm_ac200sas_01.jpg)
生産終了されたオリンパス社のOMCL-AC200TSと同様の設計、製造装置、製造工程で、弊社のOEM製品として製造しているため、従来のオリンパス社製のAFMプローブと同様にご利用いただけます。
<SPM-AC200S-ASの特徴>
①幅広い試料の測定に対応
汎用性の高い弊社OEMのAFMプローブのなかでも、ミドルレンジのカンチレバー機械特性を持った当製品は、シリコン半導体、ガラス材、金属材、プラスチックス材など、柔らかい試料から硬い試料まで幅広い領域試料の測定に対応しています。 最適なカンチレバー機械特性の判断がつかない初めての試料の測定時にも、スクリーニング用としての使用にも適しています。
②安定した先端構造
尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験による安定した鋭利な探針。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、正確な位置調整が容易。
<SPM-AC200S-ASの特徴>
①幅広い試料の測定に対応
汎用性の高い弊社OEMのAFMプローブのなかでも、ミドルレンジのカンチレバー機械特性を持った当製品は、シリコン半導体、ガラス材、金属材、プラスチックス材など、柔らかい試料から硬い試料まで幅広い領域試料の測定に対応しています。 最適なカンチレバー機械特性の判断がつかない初めての試料の測定時にも、スクリーニング用としての使用にも適しています。
②安定した先端構造
尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験による安定した鋭利な探針。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、正確な位置調整が容易。
仕様
共振周波数
150kHz (100~200kHz)
バネ定数
9N/m (2.8~21N/m)
長さ×幅×厚さ
200µm (±20) × 40µm (±2) × 3.5µm (±0.6)
形状
短冊形
探針形状
テトラヘドラル
探針高さ
14µm (9~19µm)
曲率半径
7nm (4~10nm)
材質
シリコン
金属膜コート
(反射面側) アルミニウム / (探針側) なし
チップボディ
長さ×幅×厚さ
3.4mm × 1.6mm × 0.3mm
![AFMプローブACシリーズ拡大画像01](../../img/afm_ac_01.jpg)
![AFMプローブACシリーズ拡大画像02](../../img/afm_ac_02.jpg)
![AFMプローブACシリーズ拡大画像03](../../img/afm_ac_03.jpg)
寸法
![AC200寸法](../../img/afm_ac200sas_dimension.jpg)
![AC200寸法](../../img/afm_ac200sas_dimension.jpg)
パッケージング
100チップ入りと12チップ入りがあります。
![AFMプローブパッケージング100](../../img/afm_ac_packaging_100.jpg)
![AFMプローブパッケージング12](../../img/afm_ac_packaging_12.jpg)